測長点の複製

測長点を複製します。

実行方法

Measurement Panel のデータリストに表示されている測長点を右クリックして表示されるコンテキストメニューから、Duplicate を選択すると、Duplicate Setting ダイアログが表示されます。

Measurement Duplicate Setting

アイコン 項目 実行内容
Load 複製情報が記述されたファイルを Load するダイアログを開きます。
Save 複製情報が記述されたファイルを Save するダイアログを開きます。
Type 複製した測長点の配置、順番を指定します。
nx X 方向の配列の個数を指定します。
dx X 方向の配列のピッチを指定します。
ny Y 方向の配列の個数を指定します。
dy Y 方向の配列のピッチを指定します。
Apply Array Info from Jobdeck 配列の個数、ピッチを Jobdeck ファイルの配置情報から取得するかを指定します。
Duplicate to List End 複製した測長点を複製元の測長点の後ろに配置するか、全体の後ろに配置するか指定します。
Select Grid Points to Duplicate アレイ配置されたチップのうち、選択したチップに測長点を複製するかを指定します。

アイコンをクリックすると、スクリーンからマウスで X, Y 方向のピッチを指定することができます。スクリーンで領域を指定するときは始点と終点の2点をクリックします。

OK を押すと、測長点を複製できます。

複製元と複製先の図形のサイズが違うとき、測長点を作成しませんが、プリファレンスから許容誤差を指定することで複製先に測長点を作成することができます。また、複製先に測長点を作成可能な図形が無いとき、周囲の図形を探索して測長点を作成可能な図形を探すことができます。詳しくはプリファレンス Action/Recipe Creation/Add Measurement ページの Duplicate/Length Tolerance, Duplicate/Search Retry Range をご覧ください。

測長点の複製先チップの選択

Select Grid Points to DuplicateON にすると、選択したチップに測長点を複製することができます。 複製先のチップはボタンで個別に指定することができます。

Measurement Duplicate Select Chip of Array

Jobdeck が OFF のときは、複製元測長点を原点として、入力した nx, ny, dx, dy に応じた表形式で表示します。 Jobdeck が ON のときはミラーやピッチの正負にかかわらず、最左下を原点として右上へ広がる表形式で表示します。同じチップのアレイが複数ある場合、測長点は元の測長点のあるチップのアレイにのみ複製されます。 この表の ON になっているチップアレイ座標に測長点を複製します。赤枠の要素は複製元の測長点がある座標なので ON にはできません。左上のボタンをクリックすると表を全部 ON/OFF することができます。

最終更新 05.07.2024